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簡要描述：HCTD高溫鐵電測試儀/參數(shù)分析儀用于鐵電體的鐵電測量，。本測試系統(tǒng)主要包括可編程信號源、微電流放大器、積分器、放大倍數(shù)可編程放大器、模/數(shù)轉(zhuǎn)換器數(shù)/模轉(zhuǎn)化器、微機(jī)接口部分、微機(jī)和應(yīng)用軟件等部分組成。
產(chǎn)品型號：HCTD-800廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2024-06-04訪 問 量：2831產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
| 品牌 | HUACE/北京華測 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,能源,電子/電池,航空航天,綜合 |
|---|
高溫鐵電測試儀-
產(chǎn)品名稱：高溫鐵電測試儀-
產(chǎn)品型號：HCTD-800
品牌：北京華測
產(chǎn)品介紹
本測試儀用于鐵電體的鐵電測量，。本測試系統(tǒng)主要包括可編程信號源、微電流放大器、積分器、放大倍數(shù)可編程放大器、模/數(shù)轉(zhuǎn)換器數(shù)/模轉(zhuǎn)化器、微機(jī)接口部分、微機(jī)和應(yīng)用軟件等部分組成。
本測試系統(tǒng)采用虛地模式測量電路，與傳統(tǒng)的Sawyer-Tower模式相比，此電路取消了外接電容，可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅取決于積分器積分電容的精度，減少了對測試的影響環(huán)節(jié)，比較容易定標(biāo)和，并且能實現(xiàn)較高的測量準(zhǔn)確度，它不僅能畫出鐵電薄膜的電滯回線，還可以定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化ps、剩余極化Pr、矯頑場Ec、漏電流Ik等參數(shù)，以及對鐵電薄膜材料鐵電疲勞、鐵電保持的測試。能夠較全面準(zhǔn)確地測量鐵電薄膜的鐵電。儀器采用一體化設(shè)計，實現(xiàn)測試結(jié)果全數(shù)字化，操作簡單方便。
鐵電材料參數(shù)測試儀主要是由正弦波、三角波、間歇三角波、梯形波發(fā)生器及正、負(fù)矩形脈沖和雙極性雙脈沖發(fā)生器外加鐵電材料電滯回線、I-V特性及開關(guān)特性測量電路構(gòu)成。適用于鐵電薄膜、鐵電體材料的電測量，可測量鐵電薄膜電滯回線、I-V特性及開關(guān)特性，可準(zhǔn)確地測出具有非對稱電滯回線鐵電薄膜的Pr值。可測鐵電體材料的電滯回線及IV特性。同時也可作為一臺通用信號發(fā)生器、高壓信號發(fā)生器使用。
產(chǎn)品特點
電滯回線測量、鐵電材料的飽和極化±Ps、剩余極化±Pr、矯頑場±Ec、電容量C等參數(shù)
鐵電疲勞測量
鐵電保持測量
電阻測量
漏電流測量
精度高的三維移動平臺
軟件功能
HC5000系列測試系統(tǒng)的軟件平臺hacepro,采用labview系統(tǒng)開發(fā)，符合導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料的各項測試需求，具備穩(wěn)定性與an全性，并具備斷電資料的保存功能，圖像資料可保存恢復(fù)。兼容，XP、win7、win10系統(tǒng)。
友善的使用界面
多語界面：支持中文/英文 兩種語言界面；
即時監(jiān)控：系統(tǒng)測試狀態(tài)即時瀏覽，無需等待；
圖例管理：通過軟件中的狀態(tài)圖示，一目了然，立即對狀態(tài)說明，了解測試狀態(tài)；
使用權(quán)限：可設(shè)定使用者的權(quán)限，方便管理；
故障狀態(tài)：軟件具有設(shè)備的故障報警功能。
硬件支持
集成Intel@Celeron1037U1.8GHZ雙核處理器
集成打印機(jī)接口，可擴(kuò)充8個USB接口
支持16G內(nèi)存，60G固體硬盤，讓系統(tǒng)運行流暢。
應(yīng)用領(lǐng)域
鐵電材料的電滯回線（動態(tài)與靜態(tài)）、漏電流等特性。
測量記錄在薄膜樣品上施加階躍電壓時的電流響應(yīng)。
超晶格材料在方波脈沖電壓激勵下的自漏電特性。
技術(shù)參數(shù)
1、電壓范圍：±30V（可擴(kuò)展至±4KV）
2、輸出電流峰值：±1A
3、負(fù)荷電容max：1μF
4、動態(tài)電滯回線測試頻率：0.001Hx～100kHz
5、鐵電材料漏電流的測試：10pA～100mA
6、脈沖寬度min：25ns
7、上升時間：7ns
8、極化測試精準(zhǔn)到：10fC
9、塊體材料樣品盒可進(jìn)行室溫～1200℃電滯回線測定
HCTD高溫鐵電測試儀/參數(shù)分析儀
HCTD高溫鐵電測試儀/參數(shù)分析儀
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